奥林巴斯手持式光谱仪无损检测能力

　　很多客户都想选购适合自己的光谱仪，但是就很纠结应该选择什么牌子的比较好，其实美国奥林巴斯手持式光谱仪X射线荧光分析仪技术可用于测量涂层的厚度，与其他分析仪技术相比，这种光谱仪技术在准确度和便携性方面占有优势。在较大的表面区域上进行涂层分析，通常需要使用台式光谱仪器通过某些损坏性的操作程序来完成。手持式光谱仪技术克服了这个局限性，分析仪为用户提供了一种无损涂层厚度检测能力。
　　用户通过分析仪用户界面中内置的校准功能，可以非常方便地使用一种认证标准样品，对多3个涂层的材料进行分析，分析仪并准确地测量这些涂层的厚度。使用手持式光谱仪对涂层的厚度进行测量，不需要考虑基底材料，而且可使用户自由地分析含有从钛（Ti）到钚（Pu）元素的任何沉积性涂层。由于要分析的元素范围很大，因此分析现场附近的实验室可以借助手持式光谱仪传送的准确结果，判断所检测的材料是否出现了腐蚀、磨损和涂层粘附等问题。
　　涂层分析的物理基础是朗伯比尔吸收定律，根据这个定律，X射线在刚刚进入样品的一个涂层时，强度很高，但是随着它在涂层中的传播，强度会逐渐减小。在进入第二个涂层时， X射线的强度已经降低，因为其部分强度已经被前一个涂层所吸收。随着各个涂层对X射线呈指数的吸收，进入到样品中的X射线的强度将继续减小，所吸收的量取决于样品的物理特性。
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